fbpx

aktualności

Laboratoria
Projekty badawcze
i
Publikacje naukowe

Ważna informacja!

 

Ważna informacja!


STUDENCI KOLEGIUM NAUK PRZYRODNICZYCH UNIWERSYTETU RZESZOWSKIEGO,

W dniach od 24 do 26 października 2020 r. zostają odwołane wszystkie zajęcia praktyczne odbywające się na terenie uczelni dla studentów studiów stacjonarnych i niestacjonarnych.
Zaplanowane zajęcia odbywać się będą w sposób zdalny.
Informacja co do sposobu realizacji zajęć w kolejnych dniach podana zostanie w poniedziałek, tj. 26 października 2020 roku.

dr hab. Marta Łuszczak, prof. UR
Dziekan Kolegium Nauk Przyrodniczych
Uniwersytetu Rzeszowskiego”

Konferencja Młodych Naukowców „ Analiza zagadnienia, Analiza wyników, Wystąpienia młodego naukowca”,

W dniach 17-18 października 2020r. w Rzeszowie odbędzie się Konferencja Młodych Naukowców „ Analiza zagadnienia, Analiza wyników, Wystąpienia młodego naukowca”, w której wyniki swoich badań zaprezentują nasi studenci kierunku Inżynieria materiałowa. Konferencja skierowana jest do studentów pasjonujących się nauką oraz doktorantów różnych dziedzin, jej celem jest prezentacja zagadnień naukowych oraz trening wystąpień publicznych.

W ramach prac Koła Naukowego „Nanotechnik” działającym w Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii prace w formie referatu i posteru zaprezentują:  Anna Juś – studentka III roku IM, Klaudia Wiktor- studentka III roku IM oraz Wojciech Jasłowski- student IV roku IM.

Więcej informacji o Konferencji znajduje się na stronie:

http://www.creativetime.pl/konferencja-analiza-zagadnienia-analiza-wynikow.html


Spotkanie organizacyjne I roku kierunku Inżynieria Materiałowa.

Kierunek: Inżynieria materiałowa, rok I

 

Zapraszam Państwa na spotkanie organizacyjne, które odbędzie się w poniedziałek 12.10.2020 w sali 108 A0/B3 o godz. 8.00 

(na wykładzie Pana prof. dr hab. Mariana Cholewy) 

 

Serdecznie zapraszam,
Opiekun roku
mgr inż. Ewa Bobko


Czynności związane z czyszczeniem komory reaktora III-V

W chwili obecnej na systemie MBE w CDNMiN prowadzone są czynności związane z czyszczeniem komory reaktora III-V.

Podczas pracy systemu MBE ściany komory wzrostowej wraz z czasem ulegają zanieczyszczeniu, które należy okresowo usuwać w celu poprawy jakości hodowanych struktur. W naszym systemie MBE możliwe jest hodowanie warstw o grubości pojedynczych atomów, więc każde zanieczyszczenie odłożone na ścianach komory może stanowić potencjalną niechcianą domieszkę podczas wzrostu, która przekłada się na zmiany własności fizycznych i elektrycznych w strukturze. Ze względu na obecność potencjalnie niebezpiecznych gazów wszystkie czynności związane z otwarciem komory przeprowadzane są z zachowaniem należytych środków ochrony osobistej.

System do szybkiego pomiaru efektu Hall’a ECOPIA HMS-5000

Centrum Dydaktyczno-Naukowe Mikroelektroniki i Nanotechnologii wzbogaciło się niedawno o kolejne urządzenie, jakim jest system do szybkiego pomiaru efektu Hall’a ECOPIA HMS-5000. Urządzenie wyposażone jest w zbiornik kriogeniczny, który po zalaniu ciekłym azotem pozwala na pomiary w zakresie 80-350K. Pomiary wykonywane są w stałym polu magnetycznym 0,54 [T].

System wykorzystuje metodę Van der Pauw. Pomiary są wykonywane w specjalnym uchwycie nie niszcząc powierzchni badanej próbki. Wszystko to pozwala na wykonanie potrzebnych badań w celu weryfikacji parametrów takich jak: współczynnik Hall’a, ruchliwość i koncentracja nośników, rezystywność oraz wyznaczać wszystkie te parametry w funkcji temperatury.

System wykreśla wszystkie te zależności w czasie rzeczywistym podczas pomiaru. System ponadto dostarcza wyniki testów w postaci danych tabelarycznych oraz wykresów. Użytkownik definiuje żądaną temperaturę w zakresie od 80K do 350K a następnie system automatycznie podaje i przełącza prąd wejściowy, mierzy napięcia, zmienia temperaturę i przesuwa magnesy bez interwencji użytkownika. Po zakończeniu testu wszystkie wykresy zależne od temperatury i dane tabelaryczne są gotowe do przeglądania.

 

XRD Empyrean firmy PANalytical

Centrum udało się pozyskać na cele naukowo-badawcze wysokorozdzielczy dyfraktometr rentgenowski XRD Empyrean.
Zapraszamy wszystkich do współpracy również w zakresie usług komercyjnych.

Dyfraktometr rentgenowski XRD Empyrean firmy PANalytical wyposażony jest w cztero-odbiciowy monochromator hybrydowy Ge (440) oraz goniometr (o promieniu 240 mm) o wysokiej rozdzielczości kątowej (0.0001` ), który może pracować w układzie pionowym w geometrii Theta-Theta lub Theta-2Theta.  Dodatkowo wyposażony jest w 3-osiowe koło Eulera z przesuwem osi chi-phi-z sterowane komputerowo w zakresach: Phi – 720st , Chi – 95st , Z – 60 mm. Wysokorozdzielczy dyfraktometr rentgenowski pozwala scharakteryzowanie epitaksjalnych hererostruktur materiałów półprzewodnikowych III-V i II-VI , dedykowany jest głównie do analizy jakości i jednorodności cienkich warstw.