fbpx

Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii Uniwersytetu Rzeszowskiego zakupiło na stołowy mikroskop podczerwieni LUMOS II firmy Bruker. W momencie zakupu był to pierwszy egzemplarz tego urządzenia zainstalowany w Polsce. LUMOS II łączy zalety mikroskopii optycznej ze spektrometrią w podczerwieni (FT-IR) umożliwiając identyfikację i charakteryzację niewielkich cząstek, defektów i anomalii rejestrowanych w obrębie badanych próbek. Zakupiony mikroskop znajdzie zastosowanie m.in. w analizie powierzchni, w szeroko pojętej kontroli jakości w zakresie podczerwieni w celu weryfikacji czy badane materiały są zgodne ze przewidywaną specyfikacją. Badaniom mogą być poddane struktury półprzewodnikowe jak również próbki biologiczne czy polimery. Mikroskop został wyposażony w dwa detektory chłodzone ciekłym azotem. Pierwszym z nich to detektor MCT umożliwiający analizy punktowe w trybach ATR, transmisji i odbiciowym. Drugim detektorem jest matryca FPA, dzięki której jest możliwe mapowanie powierzchni próbki z wykorzystaniem trybów ATR, transmisji i odbiciowym. Rozdzielczość pojedynczego piksela detektora FPA wynosi 5 µm w trybach transmisyjnym i odbiciowym, natomiast w trybie ATR 1,25 µm. Matryca umożliwia zarejestrowanie 1024 widm w pojedynczym skanie. Dzięki matrycy FPA i dołączonemu oprogramowaniu możliwe jest szybkie wykrycie zmian, anomalii i defektów analizowanych próbek.

Na zdjęciu: Mapowanie w podczerwieni powierzchni próbki materiałowej w trybie odbiciowym z użyciem matrycy FPA.